Röntgendiffraktio

Mineraaleja ja useimpia synteettisiä, kiteisiä faaseja voidaan kätevästi ja luotettavasti tunnistaa röntgendiffraktiomenetelmällä. Samalla voidaan arvioida näytteessä olevien faasien määräsuhteita. Menetelmä on kustannuksiltaan edullinen ja jopa alle 1 mg:n painoisia näytteitä pystytään tunnistamaan. Koska menetelmä soveltuu kiteisten aineiden tunnistamiseen, amorfisia aineita kuten esim. lasia ei pystytä määrittämään. Tulkinnan tukena voidaan tarvittaessa, kuten kaoliinin määrityksessä, käyttää muita menetelmiä (esim. infrapunaspektrofotometria tai elektronioptinen analyysi). GTK:n tutkimuslaboratoriossa on käytössä PANalytical (Philips) X’Pert MPD laitteisto ohjelmistoineen.

Joillakin savimineraaleilla on muista mineraaleista poiketen ainutlaatuisia ominaisuuksia kuten kationivaihtokyky tai kyky reagoida veden tai orgaanisten yhdisteiden kanssa. Ne voivat paisua moninkertaisesti ja mineraalituotteina niitä käytetään sekä maaperän että kalliorakenteiden stabiloimiseen. Kallioperän heikkousvyöhykkeissä paisuvat savet vaikeuttavat maanalaista kalliorakentamista ja niiden tarkka tunnistaminen on välttämätöntä. Lisäksi stabiileja savimineraaleja käytetään täyteaineina paperi- ja maaliteollisuudessa. Savimineraalien monipuolisuus onkin lisännyt niiden tutkimisen tarvetta, ja laboratoriossa on käynnistetty esimerkiksi bentoniitteihin liittyvä menetelmäkehitys yhdessä asiakkaiden kanssa.

GTK:n röngtenlaboratoriossa tuotetaan sekä ulkoisille että sisäisille asiakkaille mineraalianalysiikkaa käsittäen esimerkiksi:

• Bentoniittisavien karakterointi
• Sementin raaka-aineiden koostumus
• Teollisuus- ja malmimineraalien tunnistus
• Kivimurskeiden ja hiekkojen mineraalikoostumus
• Teknisten tuotteiden mineraalisten komponenttien määritys
• Maanalaisten kalliotilojen heikkousvyöhykkeiden mineralogia
• Biopolttoaineiden ja turpeen eräiden komponenttien määritys tuhkista

Lisätietoja:
Kristian Lindqvist, puh. +358 20550 2467 ja +358 40 5446794, sähköposti: kristian.lindqvistgtk.fi
Mia Tiljander, puh. +358 20 550 2143, +358 50 374 1262, sähköposti: mia.tiljandergtk.fi

 Takaisin

GTK:n röntgenlaboratorion PANalytical (Philips) X’Pert laitteisto lähikuvassa