Elektronioptiikka ja mikroanalytiikka

GTK:n mikroanalytiikalla ja elektronioptiikalla on pitkät perinteet, sillä ensimmäinen mikroanalysaattori hankittiin jo 1965. Pääosa analytiikasta on mennyt luonnonvarojen tutkimukseen ja malminetsinnän tarpeisiin. Cameca SX100 mikroanalysaattori otettiin käyttöön 2003, ja siinä on viisi aallonpituusdispersiivistä (WDS) spektrometriä ja yksi energiadispersiivinen (EDS) spektrometri sekä katodiluminesenssidetektori. Elektronimikroskooppina käytetään JEOL JSM 5900 LV, jossa on Oxfordin EDS-spektrometri.

Elektronimikroskooppi

Elektronimikroskoopilla (SEM) saadaan: 

  • Takaisin sironneiden elektronien (BSE) kuvia, joissa harmaasävyt riippuvat tiheyseroista. Voidaan käyttää faasien tunnistamiseen ja rakenteen tutkimiseen.
  • Sekundaarielektronikuvia, joilla saadaan tietoa faasin pintarakenteista ja niiden laadusta.
  • Laitteessa on myös alhaisen tyhjön optio, jolla voidaan kohdetta vahingoittamatta tutkia päällystämättömiä näytteitä, kuten jalokiviä ja koruja, museo- ja arkeologisia esineitä, ympäristönäytteitä jne.
  • Laitteella voidaan tehdä puolikvantitatiivista analytiikka, sekä kartoittaa automaattisesti näytteissä esiintyvät faasit ja määrittää esimerkiksi sen mineraalikoostumus.
  • Katodiluminesenssilla voidaan tutkia esimerkiksi mineraalien vyöhykkeellisyytä ja kasvurakenteita.

EPMA 

  • Faasin kvalitatiivinen analyysi muutamassa sekunnissa ja kvantitatiivinen parissa minuutissa.
  • Voidaan määrittää alkuainepitoisuuksia jaksollisessa järjestelmässä berylliumista uraaniin
  • Kiinteistä aineesta voidaan määrittää koostumus suoraan kiillotetusta ja päällystetystä preparaatista aina muutaman mikrometrin raekokoon asti. Optioina ovat piste-, profiili- tai verkkoanalyysi. Analyysipaketteja voidaan räätälöidä asiakkaiden tarpeisiin, kuten timantti-indikaattorit, betoninäytteet ja hivenalkuaiineet.
  • Rutiinianalytiikassa määritysraja on n. 0,01%, mutta hivenalkuaineilla saatetaan päästä alle 10 ppm:n pitoisuuksiin.
  • Analysointi ei vahingoita preparaattia, vaan sitä voidaan jälkeenpäin tutkia esim. polarisaatiomikroskoopilla.
  • Voidaan tehdä hivenfaaseista (Au, PGE, U, Th) hakuja automaattisesti jopa kuudesta preparaatista yön aikana. Löytää jokaisen kiinnostavan partikkelin aina mikronimittakaavaan asti.

arrow Ota yhteyttä asiantuntijoihimme

 Takaisin

 
 

Elektronioptiikka ja mikroanalytiikka